Wie hilft das DI Pattern beim Testen von Embedded-Code?

Durch das DI Pattern lassen sich echte Hardwareabhängigkeiten durch Mock-Objekte ersetzen. Beispielsweise kann ein SPI-Treiber durch eine simulierte Testimplementierung ersetzt werden, ohne dass sich der Anwendungscode ändert. Das reduziert den Aufwand für Unit-Tests erheblich und ermöglicht echtes Test-Driven Development (TDD) in Embedded-Projekten.